CHY-C2测厚仪
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产品摘要
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专 业
CHY-C2 测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
·严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
·测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
·支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
·实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
·配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
·系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
·系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
·标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输
·支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告
测试标准
该设备满足多项**和标准:ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
测试应用
基础应用 | 薄膜薄片 | 适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试 |
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纸张 | 适用于纸张、纸板的厚度测试 | |
箔片、硅片、金属片 | 适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试 | |
纺织、无纺布材料 | 适用于纺织材料的厚度测试 | |
固体电绝缘体 | 适用于固体电绝缘体的厚度测试 |
扩展应用 | 量程扩展至5,10mm | 适用于测试薄膜、片材的厚度 |
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测量头为曲面 | 满足特殊场合的厚度测试 |
指标 | 参数 |
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负荷量程 | 0 ~ 2 mm(常规) |
0 ~ 6 mm;12 mm (可选) | |
分辨率 | 0.1 μm |
测量速度 | 10 次/min (可调) |
测量压力 | 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) |
接触面积 | 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 |
电源 | AC 220V 50Hz |
外形尺寸 | 300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H) |
净重 | 33 kg |